KD-ZL4蒸氣老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。
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規格說明:
一、 箱體尺寸及結構內部尺寸:
1. 內抽屜單個尺寸:長30 *寬11*高7.5 (單位:厘米)
總共三個抽屜
2. 外尺寸:具體以實物為準
3. 內、外材質為SUS#304不銹鋼板
4. 防密之迫緊材質為Silicom
5. 外觀如圖,具體以實物為準
二、 溫控系統
1. 溫度控制為微電腦濕度控制器 P.ID.+P.W.M.+S.S.R控制,LED數字顯示。
2. 輸出為12V
3. 電流控制器為SSR無接點Relay
4. 蒸汽溫度:常溫到98℃,約30分鐘
5. 加熱方式:U型不銹鋼加熱管
三、 精 度
1.控制精度±1.0℃
2.顯示解析0.5℃
3.分布溫度±1%
四、 電壓 220V 單相
五、 配件
1. 超高溫保護
2. 定時器 99.9秒~999小時
a. 連續使用
b. 溫到計時,時間至切斷加熱電流
KD-ZL4蒸氣老化試驗箱,每一個日出,都是新的希望,每一個日落,都是新的期待。保持積極,珍惜當下,每一天都是滿滿的正能量。有一種開心,叫努力送貨,因為每一單都是你們的信任,不負時光,不負你我,感恩有您。